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CWS300光学跟踪式激光扫描仪测量系统

CWS300光学跟踪式激光扫描仪测量系统
概述:
便捷轻巧:采用碳纤维结构设计,重量减轻25% 扫描速度快:采用7条激光十字线,点云扫描测量速度提高12倍 环境适应性强:黑色、彩色和光亮的表面都可轻松应对,不稳定、振动、狭窄的环境内也可正常扫描 测量精度高:真正实现现场的动态计量级测量 操作简单:即插即用,无需预热,可以快速安装及使用 扩展性强:结合MPS工业摄影测量系统,可轻松大幅扩展扫描范围,无任何精度损失,也无需蛙跳
详情介绍

系统概述

郑州辰维科技股份有限公司最新推出的CWS300系统,是一套智能光学、实时跟踪式的三维激光扫描测量系统。


该系统基于工业摄影测量技术和结构光扫描测量技术,以2台工业测量相机组成1套P-Track光学的动态跟踪器,实时对相机视场范围内的B-Scan激光扫描仪进行动态跟踪和定位,B-Scan激光扫描仪实时扫描出被测工件表面的三维点云数据,并自动统一在P-Track测量坐标系下。该系统可广泛应用于汽车制造、航空航天、文物保护等领域。


系统组成

● 光学跟踪器(P-Track)

基于双相机工业摄影测量技术,一体式碳纤维结构设计,配备高端光学器件和红外照明装置,能够实时动态跟踪B-Scan激光扫描仪和物方的摄影扫描靶标点,为整个系统提供统一的测量基准。


CWS300光学跟踪式激光扫描仪测量系统(图1)




● 激光扫描仪(B-Scan)


基于结构光扫描测量技术,碳纤维球形结构设计,便于P-Track光学跟踪器从各个方向进行跟踪定位,具有多线激光扫描模式和单线激光扫描模式,可以精确获取工件表面、缝隙、凹槽等的高精度点云数据,为现场的三维数字扫描提供灵活完美的解决方案。


CWS300光学跟踪式激光扫描仪测量系统(图2)


● 联机测量软件


全中文界面,简洁友好的功能菜单设计,引导使用者轻松实现三维点云数据的采集、优化、保存和输出,点云数据格式可选:.stl,.obj,.asc,.txt,.xyz等,兼容各类主流商用点云处理软件。


CWS300光学跟踪式激光扫描仪测量系统(图3)



应用场景

适用于航天、航空、电子、重工、汽车等工业制造领域,以及文物考古、艺术品设计等领域。

检测:产品加工质量检测、模具形面检测、产品磨损检测、变形分析、装配干涉分析等。

逆向工程:产品、模具的逆向建模,文物、艺术品的数字化建模归档保护等。


CWS300光学跟踪式激光扫描仪测量系统(图4)


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